消費(fèi)者很難辨別產(chǎn)品真?zhèn)魏脡模?a href="http://m.bwf5.com/" target="_blank">冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)測(cè)試是一項(xiàng)環(huán)境測(cè)試，旨在確認(rèn)電子零件和設(shè)備對(duì)環(huán)境溫度變化的抵抗力。通過(guò)反復(fù)施加高溫和低溫之間的溫差，可以在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估對(duì)溫度變化的抵抗力。如果對(duì)連接有不同熱膨脹系數(shù)的材料的部分施加溫度變化，則由于膨脹和收縮期間膨脹率的差異而將施加應(yīng)力，從而導(dǎo)致破裂和斷裂。通過(guò)重復(fù)此溫度變化，冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)測(cè)試可以評(píng)估暴露于突然的溫度差異（例如室內(nèi)到室外運(yùn)動(dòng)）的產(chǎn)品。
氣罐冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)測(cè)試：氣罐型冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是使用空氣作為介質(zhì)的熱沖擊試驗(yàn)箱。熱空氣和低溫空氣交替輸送到測(cè)試區(qū)域，以產(chǎn)生熱沖擊。下一代功率半導(dǎo)體：下一代功率半導(dǎo)體需要承受大電流引起的高溫應(yīng)力，因此需要在高溫側(cè)在250°C至300°C下進(jìn)行測(cè)試。
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)箱的特點(diǎn)：對(duì)于下一代功率半導(dǎo)體，可以在+ 300°C的高溫下進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)高溫測(cè)試。您可以調(diào)整樣品的曝光時(shí)間。（漂白時(shí)間是在測(cè)試區(qū)域內(nèi)的溫度達(dá)到目標(biāo)溫度后計(jì)算的。當(dāng)測(cè)試區(qū)域內(nèi)的溫度達(dá)到目標(biāo)溫度并穩(wěn)定下來(lái)時(shí)，即使在漂白時(shí)間結(jié)束之前也要開(kāi)始下一個(gè)循環(huán)，時(shí)間可以縮短。）冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)由于將測(cè)試產(chǎn)品安裝在測(cè)試區(qū)域中，并且通過(guò)交替發(fā)送高溫空氣和低溫空氣來(lái)切換溫度，因此可以輕松地對(duì)測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行通電和測(cè)量布線。
